中清航科為晶圓切割設(shè)備提供全生命周期的服務(wù)支持，從設(shè)備安裝調(diào)試、操作人員培訓、工藝優(yōu)化指導到設(shè)備升級改造，形成完整的服務(wù)鏈條。建立客戶服務(wù)檔案，定期進行設(shè)備巡檢與性能評估，根據(jù)客戶的生產(chǎn)需求變化提供定制化的升級方案，確保設(shè)備始終保持先進的技術(shù)水平。隨著半導體技術(shù)向更多新興領(lǐng)域滲透，晶圓切割的應(yīng)用場景不斷拓展。中清航科積極布局新興市場，開發(fā)適用于可穿戴設(shè)備芯片、柔性電子、生物芯片等領(lǐng)域的切割設(shè)備。例如，針對柔性晶圓的切割，采用低溫冷凍切割技術(shù)，解決柔性材料切割時的拉伸變形問題，為新興半導體應(yīng)用提供可靠的制造保障。選擇中清航科切割代工服務(wù)，復雜圖形晶圓損耗降低27%。杭州晶圓切割代工廠

在晶圓切割的批量一致性控制方面，中清航科采用統(tǒng)計過程控制（SPC）技術(shù)。設(shè)備實時采集每片晶圓的切割尺寸數(shù)據(jù)，通過 SPC 軟件進行分析，繪制控制圖，及時發(fā)現(xiàn)過程中的異常波動，并自動調(diào)整相關(guān)參數(shù)，使切割尺寸的標準差控制在 1μm 以內(nèi)，確保批量產(chǎn)品的一致性。針對薄晶圓切割后的搬運難題，中清航科開發(fā)了無損搬運系統(tǒng)。采用特制的真空吸盤與輕柔的取放機構(gòu)，配合視覺引導，實現(xiàn)薄晶圓的平穩(wěn)搬運，避免搬運過程中的彎曲與破損。該系統(tǒng)可集成到切割設(shè)備中，也可作為單獨模塊與其他設(shè)備對接，提高薄晶圓的處理能力。江蘇sic晶圓切割測試中清航科推出晶圓切割應(yīng)力模擬軟件，提前預判崩邊風險。

中清航科的晶圓切割設(shè)備通過了多項國際認證，包括 CE、FCC、UL 等，符合全球主要半導體市場的準入標準。設(shè)備設(shè)計嚴格遵循國際安全規(guī)范與電磁兼容性要求，可直接出口至歐美、日韓等地區(qū)，為客戶拓展國際市場提供設(shè)備保障。在晶圓切割的刀具校準方面，中清航科創(chuàng)新采用激光對刀技術(shù)。通過高精度激光束掃描刀具輪廓，自動測量刀具直徑、刃口角度等參數(shù)，并與標準值對比，自動計算補償值，整個校準過程只需 3 分鐘，較傳統(tǒng)機械對刀方式提升效率 80%，且校準精度更高。

隨著 Chiplet 技術(shù)的興起，晶圓切割需要更高的位置精度以保證后續(xù)的異構(gòu)集成。中清航科開發(fā)的納米級定位切割系統(tǒng)，采用氣浮導軌與光柵尺閉環(huán)控制，定位精度達到 ±0.1μm，配合雙頻激光干涉儀進行實時校準，確保切割道位置與設(shè)計圖紙的偏差不超過 0.5μm，為 Chiplet 的高精度互聯(lián)奠定基礎(chǔ)。中清航科深諳半導體設(shè)備的定制化需求，可為客戶提供從工藝驗證到設(shè)備交付的全流程服務(wù)。其技術(shù)團隊會深入了解客戶的晶圓規(guī)格、材料特性與產(chǎn)能要求，定制專屬切割方案，如針對特殊異形 Die 的切割路徑優(yōu)化、大尺寸晶圓的分片切割策略等，已成功為多家頭部半導體企業(yè)完成定制化項目交付。切割道寬度測量儀中清航科研發(fā)，在線檢測精度達0.05μm。

中清航科創(chuàng)新性推出“激光預劃+機械精切”復合方案：先以激光在晶圓表面形成引導槽，再用超薄刀片完成切割。此工藝結(jié)合激光精度與刀切效率，解決化合物半導體（如GaAs、SiC）的脆性開裂問題，加工成本較純激光方案降低35%。大尺寸晶圓切割面臨翹曲變形、應(yīng)力集中等痛點。中清航科全自動切割機配備多軸聯(lián)動補償系統(tǒng)，通過實時監(jiān)測晶圓形變動態(tài)調(diào)整切割參數(shù)。搭配吸附托盤，將12英寸晶圓平整度誤差控制在±2μm內(nèi)，支持3D NAND多層堆疊結(jié)構(gòu)加工。中清航科推出切割機租賃服務(wù)，降低客戶初期投入成本。南通半導體晶圓切割測試

中清航科聯(lián)合高校成立切割技術(shù)研究院，突破納米級切割瓶頸。杭州晶圓切割代工廠

為提升芯片產(chǎn)出量，中清航科通過刀片動態(tài)平衡控制+激光輔助定位，將切割道寬度從50μm壓縮至15μm。導槽設(shè)計減少材料浪費，使12英寸晶圓有效芯片數(shù)增加18%，明顯降低單顆芯片制造成本。切割產(chǎn)生的亞微米級粉塵是電路短路的元兇。中清航科集成靜電吸附除塵裝置，在切割點10mm范圍內(nèi)形成負壓場，配合離子風刀清理殘留顆粒，潔凈度達Class 1標準（>0.3μm顆粒<1個/立方英尺）。中清航科設(shè)備內(nèi)置AOI（自動光學檢測）模塊，采用多光譜成像技術(shù)實時識別崩邊、微裂紋等缺陷。AI算法在0.5秒內(nèi)完成芯片級判定，不良品自動標記，避免后續(xù)封裝資源浪費，每年可為客戶節(jié)省品質(zhì)成本超百萬。杭州晶圓切割代工廠