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如何校準水浸超聲掃描顯微鏡的定位精度?

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杭州芯紀源半導體設備有限公司2025-07-26

使用標準樣件進行三維校準。選用已知尺寸的校準塊(如含0.1mm深刻槽的金屬塊),通過軟件“三點定位法”校準X/Y/Z軸。例如,校準Z軸時,將探頭聚焦于刻槽底部,調(diào)整軟件參數(shù)使圖像顯示深度與實際值一致,重復3次取平均值確保精度≤±1μm。

杭州芯紀源半導體設備有限公司
杭州芯紀源半導體設備有限公司
簡介:杭州芯紀源成立于 2024 年,融合聲、光及 AI 算法,專注半導體檢測設備研發(fā)制造,提供超聲檢測。
簡介: 杭州芯紀源成立于 2024 年,融合聲、光及 AI 算法,專注半導體檢測設備研發(fā)制造,提供超聲檢測。
水浸式超聲掃描儀2
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其余 2 條回答

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    杭州芯紀源半導體設備有限公司 2025-07-28

    激光干涉儀輔助校準。對高精度設備(如定位精度要求≤±0.5μm的機型),需使用激光干涉儀測量運動臺的實際位移,并與軟件顯示值對比修正。例如,某科研機構(gòu)通過激光干涉儀校準,將設備重復定位精度從±0.02mm提升至±0.005mm。

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    杭州芯紀源半導體設備有限公司 2025-07-31

    環(huán)境因素補償校準。溫度、濕度變化會影響材料聲速和機械結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性,需定期進行環(huán)境補償校準。例如,在25℃室溫下,檢測前需輸入當前溫度值,軟件自動調(diào)整聲速參數(shù)(如硅材料聲速從8433m/s修正為8420m/s),避免因聲速誤差導致定位偏移。

  • 杭州芯紀源半導體
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  • 空耦超聲檢測系統(tǒng)
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