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南通耐用光刻系統(tǒng)規(guī)格尺寸

來源: 發(fā)布時間:2025-08-03

其主要成像原理是光波波長為10~14nm的極端遠紫外光波經(jīng)過周期性多層膜反射鏡投射到反射式掩模版上,通過反射式掩模版反射出的極紫外光波再通過由多面反射鏡組成的縮小投影系統(tǒng),將反射式掩模版上的集成電路幾何圖形投影成像到硅片表面的光刻膠中,形成集成電路制造所需要的光刻圖形。目 前EUV技 術 采 用 的 曝 光 波 長 為13.5nm,由于其具有如此短的波長,所有光刻中不需要再使用光學鄰近效應校正(OPC)技術,因而它可以把光刻技術擴展到32nm以下技術節(jié)點。2009年9月Intel*** 次 向 世 人 展 示 了22 nm工藝晶圓,稱繼續(xù)使用193nm浸沒式光刻技術,并規(guī) 劃 與EUV及EBL曝 光 技 術 相 配 合,使193nm浸沒式光刻技術延伸到15和11nm工藝節(jié)點。 [3]當前先進的EUV光刻系統(tǒng)已實現(xiàn)2nm制程芯片量,應用于微納器件加工、芯片制造等領域。南通耐用光刻系統(tǒng)規(guī)格尺寸

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光刻技術是現(xiàn)代集成電路設計上一個比較大的瓶頸?,F(xiàn)cpu使用的45nm、32nm工藝都是由193nm液浸式光刻系統(tǒng)來實現(xiàn)的,但是因受到波長的影響還在這個技術上有所突破是十分困難的,但是如采用EUV光刻技術就會很好的解決此問題,很可能會使該領域帶來一次飛躍。但是涉及到生產(chǎn)成本問題,由于193納米光刻是當前能力**強且**成熟的技術,能夠滿足精確度和成本要求,所以其工藝的延伸性非常強,很難被取代。因而在2011年國際固態(tài)電路會議(ISSCC2011)上也提到,在光刻技術方面,22/20nm節(jié)點主要幾家芯片廠商也將繼續(xù)使用基于193nm液浸式光刻系統(tǒng)的雙重成像(doublepatterning)技術。 [2]常熟購買光刻系統(tǒng)選擇工作原理是通過光源、照明系統(tǒng)和投影物鏡將掩模圖案轉(zhuǎn)移至硅片,實現(xiàn)納米級曝光精度 [6-7]。

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決定光刻膠涂膠厚度的關鍵參數(shù):光刻膠的黏度(Viscosity),黏度越低,光刻膠的厚度越薄;旋轉(zhuǎn)速度,速度越快,厚度越??;影響光刻膠均勻性的參數(shù):旋轉(zhuǎn)加速度,加速越快越均勻;與旋轉(zhuǎn)加速的時間點有關。一般旋涂光刻膠的厚度與曝光的光源波長有關(因為不同級別的曝光波長對應不同的光刻膠種類和分辨率):I-line**厚,約0.7~3μm;KrF的厚度約0.4~0.9μm;ArF的厚度約0.2~0.5μm。軟烘方法:真空熱板,85~120C,30~60秒;目的:除去溶劑(4~7%);增強黏附性;釋放光刻膠膜內(nèi)的應力;防止光刻膠玷污設備;

EUV光刻技術的發(fā)展能否趕得上集成電路制造技術的要求?這仍然是一個問題。當然,EUV光刻技術的進步也是巨大的。截止2016年,用于研發(fā)和小批量試產(chǎn)的EUV光刻機,已經(jīng)被安裝在晶圓廠,并投入使用 [1]。EUV光刻所能提供的高分辨率已經(jīng)被實驗所證實。光刻機供應商已經(jīng)分別實現(xiàn)了20nm和14nm節(jié)點的SRAM的曝光,并與193i曝光的結果做了對比。顯然,即使是使用研發(fā)機臺,EUV曝光的分辨率也遠好于193i。14nm節(jié)點圖形的曝光聚焦深度能到達250nm以上。 [1]一個或多個噴嘴噴灑顯影液在硅片表面,同時硅片低速旋轉(zhuǎn)(100~500rpm)。

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EUV光刻系統(tǒng)的發(fā)展歷經(jīng)應用基礎研究至量產(chǎn)四個階段,其突破得益于多元主體協(xié)同創(chuàng)新和全產(chǎn)業(yè)鏈資源整合 [3]。截至2024年12月,EUV技術已應用于2nm芯片量產(chǎn),但仍需優(yōu)化光源和光刻膠性能。下一代技術如納米壓印和定向自組裝正在研發(fā)中 [6]。**光刻系統(tǒng)主要由荷蘭ASML、日本Nikon和Canon壟斷。國內(nèi)上海微電子裝備股份有限公司研制的紫外光刻機占據(jù)中端市場 [7]??蒲蓄I域***使用德國SUSS紫外光刻機(占比45%),國產(chǎn)設備在激光直寫設備中表現(xiàn)較好 [8]。曝光中重要的兩個參數(shù)是:曝光能量(Energy)和焦距(Focus)。相城區(qū)購買光刻系統(tǒng)量大從優(yōu)

但是同時引入了衍射效應,降低了分辨率。1970后適用,但是其最大分辨率為2~4μm。南通耐用光刻系統(tǒng)規(guī)格尺寸

得指出的是,EUV光刻技術的研發(fā)始于20世紀80年代。**早希望在半周期為70nm的節(jié)點(對應邏輯器件130nm節(jié)點)就能用上EUV光刻機 [1]??墒?,這一技術一直達不到晶圓廠量產(chǎn)光刻所需要的技術指標和產(chǎn)能要求。一拖再拖,直到2016年,EUV光刻機仍然沒能投入量產(chǎn)。晶圓廠不得不使用193nm浸沒式光刻機,依靠雙重光刻的辦法來實現(xiàn)32nm存儲器件、20nm和14nm邏輯器件的生產(chǎn)。不斷延誤,對EUV技術來說,有利也有弊。一方面,它可以獲得更多的時間來解決技術問題,提高性能參數(shù);另一方面,下一個技術節(jié)點會對EUV提出更高的要求。南通耐用光刻系統(tǒng)規(guī)格尺寸

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